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日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元 WLI-Unit利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量高度測量精度與光學放大倍數(shù)無關即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z ...

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三豐Mitutoyo正規(guī)授權數(shù)顯壓接高度千分尺 342-271-30 CHM-MX測量范圍（mm）：0～20最小顯示量（mm）：0.001用于壓接端子的壓接高度測量。

機械壓接高度千分尺日本三豐廈門代理 142-402 CHM-K測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.01用于壓接端子的壓接高度測量。

模擬壓接高度千分尺日本三豐mitutoyo授權 112-401 CHM測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.01用于壓接端子的壓接高度測量。

Canseam 千分尺日本三豐mitutoyo授權 147-103 CSM測量范圍（mm）：0～13分度值（毫米）：0.01用于測量罐邊緣的寬度、高度和深度。

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